問(wèn)題:正在使用電阻計(jì)RM3544。進(jìn)行0.4mΩ左右的測(cè)量時(shí)測(cè)量值顯示為負(fù)數(shù)是什么原因？
回答：使用RM3544測(cè)量接近0Ω的微小電阻時(shí)，測(cè)量值偶可能顯示為負(fù)數(shù)。如果顯示負(fù)數(shù)，請(qǐng)確認(rèn)以下幾點(diǎn)：
·重新調(diào)零
·確認(rèn)配線情況。SOURCE端和SENSE端是否接反？
·如果自制測(cè)試線的話，則檢查是否存在繼電器或焊接等接觸電阻。
此外，1mΩ以下的小電阻可能會(huì)由于熱電動(dòng)勢(shì)的作用而接觸負(fù)極。進(jìn)行1mΩ以下的測(cè)量時(shí)，推薦使用高精度電阻計(jì)RM3545。它帶熱電動(dòng)勢(shì)消除功能（OVC）。RM3545的產(chǎn)品介紹請(qǐng)點(diǎn)擊這里（鏈接RM3545的產(chǎn)品頁(yè)面）
問(wèn)題:正在使用RM3544，請(qǐng)問(wèn)需要調(diào)零嗎？
回答：使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量探頭進(jìn)行4端子測(cè)量時(shí)，電阻計(jì)RM3544無(wú)需調(diào)零，也能保證的精度范圍。如果要連接四個(gè)端子，則建議不要強(qiáng)行調(diào)零。
（如果由于探頭的形狀而難以調(diào)零，如果調(diào)零失敗的話，將顯示錯(cuò)誤的測(cè)量值。）
【參考】本頁(yè)中的《4端子電阻測(cè)量法（所有電阻計(jì)）》
【必須調(diào)零的情況】
?測(cè)量測(cè)量探頭等的接線時(shí)
?由于熱電動(dòng)勢(shì)的影響比較在意剩余顯示時(shí)
?另外，在難以進(jìn)行4端子測(cè)定而需要2端子測(cè)定的情況下
相關(guān)產(chǎn)品：RM3544、RM3545、RM3548
※如果使用RM3545的“OVC功能”（參考本頁(yè)中的《OVC是什么？》），則無(wú)需調(diào)零。
問(wèn)題:在自動(dòng)測(cè)試儀中使用RM3544-01。有時(shí)會(huì)顯示“超量程”或“ ---”。 原因是什么？ 有什么解決方法嗎？
回答：電流異常時(shí)，顯示“超量程”和“ -----”，請(qǐng)檢查探頭的連接和接點(diǎn)狀態(tài)。檢查PLC的定時(shí)功能，電極的臟污情況等。
適用產(chǎn)品：RM3544-01、RM3545等電阻計(jì)或LCR測(cè)試儀
問(wèn)題:使用微電阻計(jì)RM3544測(cè)量保險(xiǎn)絲的電阻。開始測(cè)量后電阻值慢慢下降。請(qǐng)問(wèn)是什么原因？
回答：可能是以下原因。
1.溫度的影響
微電阻計(jì)RM3544通過(guò)使用4端子測(cè)量方法流動(dòng)恒定電流來(lái)測(cè)量。熱量可能隨著時(shí)間的推移而變化，并且電阻可能根據(jù)周圍環(huán)境（例如室溫和空調(diào)等）而改變。
2.接觸狀態(tài)的影響
連接測(cè)量探頭（測(cè)試線）時(shí)，壓力可能會(huì)發(fā)生變化。 例如，當(dāng)對(duì)被測(cè)物的接觸壓力上升（適應(yīng)）時(shí)，電阻值可能會(huì)減小。
3.氧化膜的影響
根據(jù)被測(cè)物，通過(guò)測(cè)量電流去除表面的氧化膜，并且電阻值可能會(huì)變低
